Kovalev, Vladimir, Saygid Uvaysov, i Marcin Bogucki. 2021. „ELIPSOMETRYCZNY SYSTEM SPEKTROSKOPOWY DO SZYBKIEJ OCENY SKŁADU CIENKICH WARSTW Bi2Te3-XSeX”. Informatyka, Automatyka, Pomiary W Gospodarce I Ochronie Środowiska 11 (4):67-74. https://doi.org/10.35784/iapgos.2855.