2021. ELIPSOMETRYCZNY SYSTEM SPEKTROSKOPOWY DO SZYBKIEJ OCENY SKŁADU CIENKICH WARSTW Bi2Te3-XSeX. Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska. 11, 4 (grudz. 2021), 67–74. DOI:https://doi.org/10.35784/iapgos.2855.