ELIPSOMETRYCZNY SYSTEM SPEKTROSKOPOWY DO SZYBKIEJ OCENY SKŁADU CIENKICH WARSTW Bi2Te3-XSeX. (2021). Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska, 11(4), 67-74. https://doi.org/10.35784/iapgos.2855