„ELIPSOMETRYCZNY SYSTEM SPEKTROSKOPOWY DO SZYBKIEJ OCENY SKŁADU CIENKICH WARSTW Bi2Te3-XSeX”. 2021. Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska 11 (4): 67-74. https://doi.org/10.35784/iapgos.2855.