„ELIPSOMETRYCZNY SYSTEM SPEKTROSKOPOWY DO SZYBKIEJ OCENY SKŁADU CIENKICH WARSTW Bi2Te3-XSeX” (2021) Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska, 11(4), s. 67–74. doi:10.35784/iapgos.2855.