„ELIPSOMETRYCZNY SYSTEM SPEKTROSKOPOWY DO SZYBKIEJ OCENY SKŁADU CIENKICH WARSTW Bi2Te3-XSeX”. Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska, t. 11, nr 4, grudzień 2021, s. 67-74, https://doi.org/10.35784/iapgos.2855.