ELIPSOMETRYCZNY SYSTEM SPEKTROSKOPOWY DO SZYBKIEJ OCENY SKŁADU CIENKICH WARSTW Bi2Te3-XSeX. IAPGOS [Internet]. 20 grudzień 2021 [cytowane 15 wrzesień 2026];11(4):67-74. Dostępne na: https://ph.pollub.pl/index.php/iapgos/article/view/2855