METHOD OF OBTAINING THE SPECTRAL CHARACTERISTICS OF THE SCANNING PROBE MICROSCOPE

Mariia Kataieva; Vladimir Kvasnikov

doi:10.35784/iapgos.2646

Open full text

PDF (English)

Opublikowane: cze 30, 2021

DOI: https://doi.org/10.35784/iapgos.2646

Numer Tom 11 Nr 2 (2021)

Artykuły

KROK W KIERUNKU METODY FUZJI DECYZJI OPARTEJ NA WIĘKSZOŚCI DLA WALIDACJI WYNIKÓW KLASTERYZACJI
Taras Panskyi, Volodymyr Mosorov

4-13
ROZMYTE PODEJŚCIE DO LOKALIZACJI URZĄDZEŃ NA PODSTAWIE SIŁY SYGNAŁU SIECI BEZPRZEWODOWYCH
Michał` Socha, Wojciech Górka, Marcin Michalak

14-21
ZASTOSOWANIE METOD CYFROWEGO PRZETWARZANIA OBRAZU DO UZYSKIWANIA KONTURÓW OBIEKTÓW NA OBRAZACH ULTRASONOGRAFICZNYCH STAWU BIODROWEGO
Pavlo Ratushnyi, Yosyp Bilynskyi, Stepan Zhyvotivskyi

22-25
PRZEGLĄD WYKORZYSTANIA URZĄDZEŃ RENTGENOWSKICH W BADANIACH JAKOŚCI ELEKTRONIKI
Magdalena Michalska

26-29
BADANIA SYMULACYJNE I EKSPERYMENTALNE MASZYNY KŁOWEJ ZE WZBUDZENIEM HYBRYDOWYM I PAKIETOWANYM RDZENIEM WIRNIKA
Marcin Wardach, Paweł Prajzendanc, Kamil Cierzniewski, Michał Cichowicz, Szymon Pacholski, Mikołaj Wiszniewski, Krzysztof Baradziej, Szymon Osipowicz

30-35
STACJE WYMIANY AKUMULATORÓW SAMOCHODÓW ELEKTRYCZNYCH
Aleksander Chudy

36-39
ZABEZPIECZENIE NADNAPIĘCIOWE MIKROINSTALACJI PV – WYMAGANIA I MODEL SYMULACYJNY
Klara Janiga

40-43
OKREŚLANIE PARAMETRÓW HYDRODYNAMICZNYCH USZCZELNIONEGO EKSTRAKTORA
Nataliaya Kosulina, Stanislav Kosulin, Kostiantyn Korshunov, Tetyana Nosova, Yana Nosova

44-47
OPRACOWANIE URZĄDZENIA DO POMIARU I ANALIZY DRGAŃ
Anzhelika Stakhova, Volodymyr Kvasnikov

48-51
SPOSÓB UZYSKANIA CHARAKTERYSTYKI WIDMOWEJ MIKROSKOPU SONDY SKANUJĄCEJ
Mariia Kataieva, Vladimir Kvasnikov

52-55
SZEROKOPASMOWE SATELITARNE SIECI DANYCH W KONTEKŚCIE DOSTĘPNYCH PROTOKOŁÓW I PLATFORM CYFROWYCH
ENGLISH
Jacek Wilk-Jakubowski

56-60

Archiwum

2023

Tom 13 Nr 4
2023-12-20 24
Tom 13 Nr 3
2023-09-30 25
Tom 13 Nr 2
2023-06-30 14
Tom 13 Nr 1
2023-03-31 12

2022

Tom 12 Nr 4
2022-12-30 16
Tom 12 Nr 3
2022-09-30 15
Tom 12 Nr 2
2022-06-30 16
Tom 12 Nr 1
2022-03-31 9

2021

Tom 11 Nr 4
2021-12-20 15
Tom 11 Nr 3
2021-09-30 10
Tom 11 Nr 2
2021-06-30 11
Tom 11 Nr 1
2021-03-31 14

2020

Tom 10 Nr 4
2020-12-20 16
Tom 10 Nr 3
2020-09-30 22
Tom 10 Nr 2
2020-06-30 16
Tom 10 Nr 1
2020-03-30 19

2019

Tom 9 Nr 4
2019-12-16 20
Tom 9 Nr 3
2019-09-26 20
Tom 9 Nr 2
2019-06-21 16
Tom 9 Nr 1
2019-03-03 13

DOI

https://doi.org/10.35784/iapgos.2646

Authors

Mariia Kataieva

kataeva.mariia@gmail.com

National Aviation University, Kiev, Ukraine, Ukraina

http://orcid.org/0000-0002-1586-1861

Vladimir Kvasnikov

kvp@nau.edu.ua

National Aviation University, Kiev, Ukraine, Ukraina

http://orcid.org/0000-0002-6525-9721

Abstrakt

W artykule omówiono metody i algorytmy cyfrowego przetwarzania i filtracji podczas nano-pomiarów z wykorzystaniem mikroskopu z sondą skanującą. Badane są metody korekcji częstotliwości obrazu, w szczególności wykorzystanie transformaty Fouriera z różnymi metodami filtracji w celu poprawy jakości otrzymanego obrazu. Opracowano stabilne algorytmy obliczeniowe do konwersji sygnałów dyskretnych na podstawie transformaty Fouriera. Przedstawiono metody interpretacji numerycznych wyników dyskretnej transformaty Fouriera w takich pakietach jak Matlab, MathCad, Matematica. Proponuje się zastosowanie transformacji okienkowej opracowanej na podstawie transformaty Fouriera, która pozwala wyodrębnić charakterystykę informacyjną sygnału i zmniejszyć wpływ czynników destabilizujących występujących podczas przetwarzania sygnału z mikroskopu z sondą skanującą w warunkach rzeczywistych.

Słowa kluczowe:

nano-pomiar, cyfrowe przetwarzanie sygnału, mikroskop z sondą skanującą, transformata Fouriera

Bibliografia

Addison P. S.: Secondary transform decoupling of shifted nonstationary signal modulation components: application to photoplethysmography. Int. J. Wavelets Multires. Inf. Proc. 2, 2004, 43–57. DOI: https://doi.org/10.1142/S0219691304000329

Falvo M. et al.: The nanomanipulator: A teleoperator for manipulating materials at the nanomerter scale. Proc. of Int. Symp. On Science and Technology of Atomically Engineered Materials, 1996, 579–586.

Hyon C. K. et al.: Application of atomic-force-microscope direct patterning to selective positioning of InAs quantum dots on GaAs. Applied Physics Letters 77, 2000, 2607–2609. DOI: https://doi.org/10.1063/1.1318393

Ito K. J. et al.: Servomechanism for locking scanning tunneling microscope tip over surface nanostructures. Rev. of Sci. Inst. 71(2), 2000, 420–423. DOI: https://doi.org/10.1063/1.1150217

Iwasaki H., Yoshinobu T., Sudoh K.: Nanolithography on SiO2/Si with a scanning tunneling microscope. Nanotechnology 14, 2003, 55–62. DOI: https://doi.org/10.1088/0957-4484/14/11/R01

Majumdar A. et al.: Nanometer-scale lithography using the atomic force microscope. Applied Physics Letters 61, 2002, 2293–2295. DOI: https://doi.org/10.1063/1.108268

Mokaberi B., Requicha A. A. G.: Drift compensation for automatic nanomanipulation with scanning probe microscopes. IEEE Trans. on Automation Science and Engineering 3(3), 2006, 199–207. DOI: https://doi.org/10.1109/TASE.2006.875534

Mokaberi B., Requicha A. A. G.: Towards automatic nanomanipulation drift compensation in scanning probe microscopes. IEEE Int. Conf. on Robotics and Automation, New Orleans, LA, 2004. DOI: https://doi.org/10.1109/ROBOT.2004.1307185

Ohji H. et al.: Fabrication of a beam-mass structure using single-step electrochemical etching for micro structures (SEEMS). J. Micromech. Microeng. 10, 2000, 440–444. DOI: https://doi.org/10.1088/0960-1317/10/3/320

Roth S., Dellmann L., Racine G. A., de Rooij N. F.: High aspect ratio UV photolithography for electroplated structures. J. Micromech. Mecroeng. 9, 2009, 105–108. DOI: https://doi.org/10.1088/0960-1317/9/2/001

Sahoo D. R. et al.: Transient signal based sample detection in atomic force microscopy. Applied Physics Letters 83(26), 2003, 5521–5523. DOI: https://doi.org/10.1063/1.1633963

Said R. A.: Microfabrication by localized electrochemical deposition: experimental investigation and theoretical modeling. Nanotechnology 15, 2004, 867. DOI: https://doi.org/10.1088/0957-4484/15/7/C01

Salapaka S., De T.: A new sample-profile estimate for faster imaging in atomic force microscopy. Proceedings of the American Control Conference, Boston, MA, 2004. DOI: https://doi.org/10.1115/IMECE2005-80511

Salapaka М. V. et al.: Multimode noise analysis of cantilevers for scanning probe microscopy. Journal of Applied Physics 81(6), 1997, 2480–2487. DOI: https://doi.org/10.1063/1.363955

San Paulo A., Garcia R.: Tip-surface forces, amplitude and energy dissipation in amplitude–modulation (tapping mode) force microscopy. Physical Review B. 64, 2002, 041406 (1–4). DOI: https://doi.org/10.1103/PhysRevB.64.193411

Sebastian A. et al.: Robust control approach to atomic force microscopy. Proceedings of the IEEE Conference on Decision and Control, Hawai, 2003.

Staub R. at al.: Drift elimination in the calibration of scanning probe microscopes. Rev. Sci. Inst. 66(3), 1995, 2513–2516. DOI: https://doi.org/10.1063/1.1145650

Yang Q., Jagannathan S.: Nanomanipulation using atomic force microscope with drift compensation. Proceedings of the 2006 American Control Conference, Minneapolis, Minnesota, USA, 2006.

Yang S. et al.: Block phase correlation-based automatic drift compensation for atomic force microscopes. IEEE Int. Conf. on Nanotechnology, Nagoya, Japan, 2005.

Yaseen A. S. at al.: Speech signal denoising with wavelet-transforms and the mean opinion score characterizing the filtering quality. Proc. SPIE. 9707, 2016, 970719. DOI: https://doi.org/10.1117/12.2211384

Kataieva, M., & Kvasnikov, V. (2021). SPOSÓB UZYSKANIA CHARAKTERYSTYKI WIDMOWEJ MIKROSKOPU SONDY SKANUJĄCEJ. Informatyka, Automatyka, Pomiary W Gospodarce I Ochronie Środowiska, 11(2), 52–55. https://doi.org/10.35784/iapgos.2646

##plugins.themes.bootstrap3.article.sidebar##

Numer Tom 11 Nr 2 (2021)

Archiwum

##plugins.themes.bootstrap3.article.main##

DOI

Authors

Abstrakt

Słowa kluczowe:

Bibliografia

##plugins.themes.bootstrap3.article.details##

Licencja