PROBLEM WŁAŚCIWYCH PRZEDZIAŁÓW CZASOWYCH DLA WZORCOWANIA PRZYRZĄDÓW LABORATORYJNYCH W AKTUALNYCH UREGULOWANIACH MIĘDZYNARODOWYCH IECEE I PRAKTYCE ITE ODDZIAŁ PREDOM
##plugins.themes.bootstrap3.article.sidebar##
Open full text
Numer Tom 6 Nr 3 (2016)
-
METROLOGIA W UKRAINIE
Oleksandr Huk, Orest Ivakhiv, Bohdan Stadnyk4-5
-
WYBRANE PROBLEMY METROLOGICZNE IMPLIKOWANE STOSOWANIEM TECHNOLOGII LED W OŚWIETLENIU
Urszula Błaszczak, Andrzej Stanisław Zając6-11
-
ZASTOSOWANIE GRAFÓW PRZEPŁYWU W POMIARACH MIKROFALOWYCH WIELKOŚCI ELEKTRYCZNYCH
Przemysław Piróg12-15
-
PROBLEM WŁAŚCIWYCH PRZEDZIAŁÓW CZASOWYCH DLA WZORCOWANIA PRZYRZĄDÓW LABORATORYJNYCH W AKTUALNYCH UREGULOWANIACH MIĘDZYNARODOWYCH IECEE I PRAKTYCE ITE ODDZIAŁ PREDOM
Jan Łysko, Marek Starczewski, Joanna Walczak-Złotkowska16-19
-
UTRZYMANIE WZORCÓW CZASU W ZESPOLE WZORCÓW ODNIESIENIA W ZIELONCE. UDZIAŁ WE WSPÓŁTWORZENIU POLSKIEJ ATOMOWEJ SKALI CZASU TA (PL)
Marcin Gosztyła20-23
-
PORÓWNANIE METOD UŚREDNIANIA STATYSTYCZNEGO NA PRZYKŁADZIE WZORCOWANIA CEWEK HELMHOLTZA
Mariusz Janeczko24-27
-
ODTWARZANIE JEDNOSTKI AKTYWNOŚCI RADIONUKLIDÓW ZA POMOCĄ TECHNIKI CIEKŁYCH SCYNTYLATORÓW (LSC)
Ryszard Broda, Tomasz Dziel , Tomasz Ziemek , Anna Listkowska28-31
-
POMIARY PARAMETRÓW AEROZOLU WODNEGO WYTWARZANEGO METODĄ WYBUCHOWĄ
Grzegorz Śmigielski, Roman Dygdała, Michał Kaczorowski, Grzegorz Serejko32-35
-
DIAGNOSTYKA DOKŁADNOŚCI WSKAZAŃ MULTIMETRÓW CYFROWYCH
Roman Tabisz36-39
-
METROLOGICZNA ANALIZA RÓŻNYCH TECHNIK POMIARU NAPIĘCIA POWIERZCHNIOWEGO NA GRANICY FAZ POMIĘDZY DWOMA PŁYNAMI NA BAZIE METODY WIRUJĄCEJ KROPLI
Igor Kisil, Olga Barna, Yuriy Kuchirka40-42
-
WYSOKOCZĘSTOTLIWOŚCIOWA PRZETWORNICA DC/DC OPARTA NA TRANZYSTORACH SIC DLA ZASTOSOWAŃ Z ODNAWIALNYMI ŹRÓDŁAMI ENERGII
Leszek Wolski43-46
-
KOMPUTEROWA SYMULACJA KOLUMNY DESTYLACYJNEJ Z AUTOMATYCZNYM STEROWANIEM
Volodymyr Drevetskiy, Vasyl Ivanchuk47-50
-
POPRAWA WŁAŚCIWOŚCI CZUJNIKÓW ŚWIATŁOWODOWYCH Z UŻYCIEM PRZETWARZANIA MIMO
Andreas Ahrens, André Sandmann, Kort Bremer, Bernhard Roth, Steffen Lochmann51-55
-
WPŁYW ROZKŁADU TEMPERATURY W REAKTORZE DO SYNTEZY CVD NANOZASOBNIKÓW WĘGLOWYCH NA PROCES SYNTEZY
Łukasz Pietrzak, Łukasz Wąs, Marcin Wyczechowski56-59
-
ALGORYTM STEROWANIA NAPĘDU MIKROPOMPY PULSACYJNEJ
Sebastian Bartel60-63
-
DWUKIERUNKOWA PRZETWORNICA DC/DC Z WYKORZYSTANIEM ELEMENTÓW SIC
Wojciech Matelski, Leszek Wolski, Stanisław Abramik64-69
-
ANALIZA MOŻLIWOŚCI DETEKCJI WYŁADOWAŃ NIEZUPEŁNYCH W APARATURZE ROZDZIELCZEJ ŚREDNICH NAPIĘĆ W IZOLACJI POWIETRZNEJ METODĄ PRZEJŚCIOWEGO NAPIĘCIA DOZIEMNEGO
Rafał Buczko, Andrzej Sikora70-74
-
MODEL APARATU KTG W ŚRODOWISKU LABVIEW
Piotr Gumkowski, Wojciech Lecewicz, Wojciech Surtel75-78
Archiwum
-
Tom 8 Nr 4
2018-12-16 16
-
Tom 8 Nr 3
2018-09-25 16
-
Tom 8 Nr 2
2018-05-30 18
-
Tom 8 Nr 1
2018-02-28 18
-
Tom 7 Nr 4
2017-12-21 23
-
Tom 7 Nr 3
2017-09-30 24
-
Tom 7 Nr 2
2017-06-30 27
-
Tom 7 Nr 1
2017-03-03 33
-
Tom 6 Nr 4
2016-12-22 16
-
Tom 6 Nr 3
2016-08-08 18
-
Tom 6 Nr 2
2016-05-10 16
-
Tom 6 Nr 1
2016-02-04 16
-
Tom 5 Nr 4
2015-10-28 19
-
Tom 5 Nr 3
2015-09-02 17
-
Tom 5 Nr 2
2015-06-30 15
-
Tom 5 Nr 1
2015-03-31 18
-
Tom 4 Nr 4
2014-12-09 29
-
Tom 4 Nr 3
2014-09-26 22
-
Tom 4 Nr 2
2014-06-18 21
-
Tom 4 Nr 1
2014-03-12 19
##plugins.themes.bootstrap3.article.main##
DOI
Authors
Abstrakt
W artykule przedstawiono wymagania zawarte w dokumencie IECEE OD-5011 dotyczące spójności pomiarowej i wzorcowania wyposażenia badawczego w laboratoriach zrzeszonych w IECEE. Omówiono m.in. sprawy wyboru laboratorium wzorcującego, okresów między kolejnymi wzorcowaniami dla poszczególnych grup sprzętu pomiarowego, wymagań dotyczących spójności pomiarowej. Omówiono zagadnienia wyposażenia badawczego podlegającego jedynie wzorcowaniu wstępnemu. Przedstawiono również informację o stosowaniu IECEE OD-5011 w bieżącej praktyce laboratoryjnej ITE Oddział PREDOM.
Słowa kluczowe:
Bibliografia
IECEE OD-5011 Edition 1.0 2015-06-03 IECEE OPERATIONAL DOCUMENT IEC System of Conformity Assessment Schemes for Electrotechnical Equipment and Components (IECEE System). Committee of Testing Laboratories (CTL). Requirements for Traceability of Calibrations and Calibration Intervals International Electrotechnical Commission, www.iecee.org
IECEE-CTL/529/INF IECEE-CTL/529/INF-Info, 2016-03-09/10, documents 53rd Meeting ofthe IECEE Committee of Testing Laboratories, www.iecee.org
##plugins.themes.bootstrap3.article.details##
Abstract views: 310
Licencja

Utwór dostępny jest na licencji Creative Commons Uznanie autorstwa – Na tych samych warunkach 4.0 Miedzynarodowe.
